TDL-1400A型箱式高溫爐主要為高等院校、科研院所等單位的實驗室，提供1400℃的高溫試驗環境，應用在半導體、航空航天、微電子、納米技術等新材料領域。
產品描述：
TDL係列馬弗爐是針對實驗室日常應用研發的，出色的焙燒效果、現代化的外型設計及高度的可靠性是此類電爐的突出特色。產品以矽碳棒為加熱元件，爐膛采用進口氧化鋁多晶體纖維材料。采用微電腦控製，操作方便，可編程，自動升溫、自動保溫、自動降溫。
產品特點：
采用矽碳棒加熱，40段程序控溫，S型單鉑銠熱電偶測溫，溫度可達1400℃。 高溫馬弗爐控溫的準確性與企業的正常和檢測機構化驗結果的準確性密切相關， 同時也是對產品質量的保證。因此定期對高溫電阻爐進行校準，對確保電阻爐爐溫在長期過程的準確性，提高效率有著十分重要的作用。

係統整體校準方法:

此方法是將電阻爐爐體、控溫熱電偶及控溫顯示儀表作為一個整體，進行整體的現場校準。 根據日常校準工作的需要，本校準方法適用於zui高工作溫度為1600℃的高溫電阻爐。

(1)校準項目
高溫電阻爐的校準項目主要包括溫度偏差和溫度均勻度。
(2)校準裝置的組成
所使用的標準器及配套設備有標準熱電偶、標準顯示儀表(直流電壓測量儀器)、數字溫度計、補償導線和轉換開關。
(3)校準步驟
馬弗爐應該在爐膛未裝爐料(空載)的情況下測量，如果有爐料應該和客戶交代清楚，使用的標準器必須是經過檢定合格的。
①標準熱電偶的安裝
在斷電的前提下將標準熱電偶由測量口插入，把熱電偶測量端放到中心樣品分析位置，將地反映爐內工作區域的真實溫度。將熱電偶的參考端與標準顯示儀表輸入端連接，數字溫度計放在參考端旁邊，用於得到參考端的補償溫度。在測量口要用石棉堵嚴，以防漏熱。

②測試點的位置
測試點的位置應分布在電阻爐工作室內的3個平麵上，稱上、中、下三層，中層為通過工作室幾何中心平行於底麵的工作麵， 測試點與工作室內壁的距離不小於各邊長的1/10，遇風道時，此距離可加大，如電阻爐內有樣品架或樣品車時， 下層測試點可放在樣品架或樣品車上方10mm處。 對實驗室用的箱體較小的電阻爐(小於0.2m3)，測試點的位置可適當調整， 通常放置在電阻爐的中心位置處，或標準熱電偶和被校電阻爐熱電偶的測量端。 測試布點圖如圖2所示 (a為容積小於0.9m3時，b為容積大於0.9m3時)。

③校準點的選擇
一般新購的電阻爐校準溫度點應選擇使用範圍的下限、上限溫度，使用中的可選擇上下限間的任意溫度，也可根據用戶需要選擇實際常用的溫度點，從而也方便進行溫度均勻度的校準。

④溫度校準

將被校準電阻爐的溫控儀設定到所要求的標稱溫度，通常由低溫到高溫，使電阻爐正常工作，穩定後開始讀數，每2min記錄所有測試點的溫度1次，在30min內共測試15次。 測量得到的數值進行修正後即為實際溫度，對於體積較小的電阻爐，可隻校準電阻爐的溫度偏差。

⑤數據處理
a.溫度偏差的計算
注：標準熱電偶所測溫度點對應的毫伏值為標準顯示儀表顯示毫伏值與數字溫度計顯示溫度對應毫伏值之和，通過查熱電偶分度表可得出標準熱電偶每次所測的溫度值。

b.溫度均勻度的計算
每次測量中實測zui高溫度與zui低溫度之差的算術平均值
(5)係統整體校準過程中應注意的問題
①標準熱電偶裝爐、接線均在電阻爐斷電情況下進行，檢查接線無誤後，方可開啟電阻爐升溫。
②標準熱電偶測量端要置於樣品分析位置附近，但不能觸及樣品或爐內壁，以防汙染或損壞標準熱電偶。
③溫度達到控溫點後，為使爐溫均勻、穩定，需控溫30min後再進行讀數。 由於電阻爐二次儀表與毫伏表顯示不同步，因此，每個回合讀數時要讀取毫伏表的zui高、zui低值，相應地讀取二次儀表顯示的zui高、zui低值。

④測量爐溫均勻度必須在空載的情況下，達到熱穩定狀態時進行。 對具有風扇的電阻爐，在測量期間風扇要正常工作。
⑤如果示值誤差偏大， 就要檢查爐子工作是否正常。 例如，為防止控製儀表熱電偶的不鏽鋼保護管與爐絲短接， 在控製儀表熱電偶上又套了一個絕緣瓷管，這樣要剪短絕緣瓷管，以免使控製儀表熱電偶的實際露出長度短於熱電偶保護管的8~10倍;爐壁上插控製儀表熱電偶的孔密封要嚴密，以防附近區域熱量散失。 實際情況下，采取一定措施可以使示值誤差值較大的爐溫現場校正值減小。

⑥校準結束後，為避免損壞熱電偶或縮短熱電偶的壽命，不能迅速取出標準熱電偶，也不能迅速打開爐門因為急冷急熱會損壞爐膛。

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